Контакты/Адрес/Проезд
         Доставка и Оплата    Заказ по телефону/email    Помощь    Есть вопрос?    О компании  
 
+7 (495) 980-12-10
shop@lgbook.ru
10:00-18:00 пн-пт
 
  Поиск
Найти
 
Integrated Circuit Failure Analysis, Beck
  
Integrated Circuit Failure Analysis

Автор: Beck
Название:  Integrated Circuit Failure Analysis   (Бек. Анализы отказа интегральной схемы)
Издательство: Wiley
Классификация:
ISBN: 0471974013
ISBN-13(EAN): 9780471974017
Обложка/Формат: Hardback
Страницы: 190
Вес: 0.432 кг.
Дата издания: 19.01.1998
Серия: Wiley series in quality & reliability engineering
Язык: Eng
Иллюстрации: Index
Размер: 23.75 x 15.62 x 1.52 cm
Читательская аудитория: Postgraduate, research & scholarly
Рейтинг:
Описание: Examines the most important physical and chemical preparative methods and applications in semiconductor device analysis. The main focus of the book is on bipolar and MOS circuits but material is equally pertinent to the analysis of other kinds of components.

Наличие на складе: Есть (1 шт.)
Цена: 4410 р.

  
Добавить в корзину
Добавить в Мои желания


Название: CMOS Digital Integrated Circuits
ISBN: 0071243429 ISBN-13(EAN): 9780071243421
Издательство: McGraw-Hill
Цена: 1575 р.
Наличие на складе: Есть (1 шт.)
Описание: Describing CMOS processing, this book covers MOS transistor models, basic CMOS gates, interconnect effects, dynamic circuits, memory circuits, BiCMOS circuits, I/O circuits, VLSI design methodologies, low-power design techniques, design for manufacturability and design for testability.


ООО "Логосфера " Тел:(495)980-12-10 www.lgbook.ru
- - - - - - - - - - - - - - - - - - - -